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3360 VLSI測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-11-10

簡要描述：

3360 VLSI測試系統(tǒng)
主要特色：
?50 MHz 測試頻率
?608 個(gè) I/O 通道
?8M （標(biāo)準(zhǔn)） /16M （選購） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu) （互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD）
?平行測試可達(dá) 32 devices
?Real Parallel Trim/Match 功能

  免費(fèi)咨詢：0755-23217122

  發(fā)郵件給我們：xz01@junhuiyiqi.vip

3360 VLSI測試系統(tǒng)

主要特色：

  • 50 MHz 測試頻率
  • 608 個(gè) I/O 通道
  • 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
  • 平行測試可達(dá) 32 devices
  • Real Parallel Trim/Match 功能
  • 直接裝設(shè) SC312, TS670 針測卡
  • 測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
  • Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
  • SCAN test 選配 (512M)
  • ALPG test 選配供記憶體用
  • STDF 工具支援
  • 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
  • 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.

 

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