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3360-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-11-10

簡(jiǎn)要描述：

3360-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)
主要特色：
?25/50 MHz 測(cè)試頻率
?25/50 Mbps data rate
?256 logic I/O pins
?8M （標(biāo)準(zhǔn)） /16M （選購(gòu)） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu) （互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD

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  發(fā)郵件給我們：xz01@junhuiyiqi.vip

3360-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

  • 25/50 MHz 測(cè)試頻率
  • 25/50 Mbps data rate
  • 256 logic I/O pins
  • 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購(gòu)) Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
  • 平行測(cè)試可達(dá) 32 devices
  • Real parallel Trim/Match 功能
  • 時(shí)序頻率測(cè)試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
  • 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10,J750, ITS9K, TS670 )
  • AD/DA卡 選配 (16 ~24 bits)
  • SCAN 測(cè)試 選配 (max 512M/chain)
  • ALPG 測(cè)試 選配供記憶體用
  • STDF 工具支援
  • 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
  • CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言

 

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